变温光致发光测试系统
2009-5-26 阅读数：
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仪器名称 |
变温光致发光测试系统 |
型 号 |
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仪器编号 |
G2420 |
仪器来源 |
研制 |
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生产厂商 |
中科院合肥物质科学研究院固体所 |
启用日期 |
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仪器类别 |
物理性能测试仪器-其他 |
仪器原值 |
3294029.15 |
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所在单位部门 |
中科院固体物理研究所- 材料应用技术研究室（五室） |
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仪器负责人 |
尹志军 |
联系电话 |
0551-5591736 |
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地 址 |
安徽省合肥市蜀山湖路350号 1129信箱 |
邮 编 |
230031 |
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E-mail |
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主要技术指标 |
（1）激发光为76MHz脉冲激光； （2）激发光波长为266nm和400nm，强度分别为最高20mW和40mW； （3）接收探测器接收波长范围为185～850nm，精度为0.05nm； （4）样品架最低温度可达20K。 |
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包含主要附件 |
（1）钛宝石激光器（Mira900）：输出波长可调：700nm～980nm；输出功率：≥800mW。 （2）超导磁体低温恒温器（ILM2000）：磁场强度≥10T。 |
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仪器主要功能 |
光致发光测试系统由Verdi-6型半导体激光器、Mira-900-F 钛宝石锁模激光器、9300SHG&THG二倍频和三倍频器、光功率表计、SP-25ooi单色仪、光子计数探测器、光电倍增管、锁相放大器、光斩波器、闭循环制冷系统组成。主要用于测试材料光学的性能，如光学薄膜和晶体的光学性质及材料的带边结构；可作为独立光源使用，也可通过不同组合，检测出微弱的光致发光信号，弥补了光子计数探测器的不足，或进行伏安测量；闭循环制冷系统可进行样品的低温测试。 |
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仪器服务领域 |
材料、光学 |
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计量认证资质 |
否 |
实验室认可 |
否 |
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仪器现状 |
正常 |
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收费标准 |
常温：100元/样品；低温：300元/样品。 |
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仪器图片 |
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